高斯计（又称特斯拉计，用于测量磁场强度）的保养是确保其长期精准、稳定运行的关键，需围绕核心部件保护、环境控制、定期维护、规范操作四大维度展开，具体保养要点如下：

一、核心部件保养：重点保护 “霍尔探头”

霍尔探头是高斯计的核心感应部件，精度高但易受损，保养需格外注意：

物理防护：避免机械损伤

探头（尤其是感应端）质地脆弱，使用时需轻拿轻放，严禁碰撞、挤压或跌落；测量时避免探头与金属件、磁性材料硬接触，防止探头外壳或内部芯片损坏。

不使用时，必须立即套上专用的探头保护套（多为塑料或橡胶材质），并将探头线缆整理平顺，避免过度弯折（线缆内部导线易断裂），建议用扎带轻轻固定，防止缠绕拉扯。

若探头线缆出现破损（如外皮开裂、内芯暴露），需立即停止使用，联系厂家维修或更换，避免因线缆屏蔽层损坏引入干扰，影响测量精度。

防污染：保持探头清洁

若探头感应端沾染灰尘、油污或磁性粉末，会影响磁场感应灵敏度，需用无尘软布（如镜头布）轻轻擦拭；若污渍较顽固，可蘸取少量无水乙醇（95% 以上）轻轻擦拭，擦拭后待乙醇完全挥发再使用，严禁用水或腐蚀性液体清洗。

测量环境若存在粉尘（如磁性材料加工车间），建议在探头外额外套一层透气防尘套（需确认不影响磁场穿透），测量后及时清理防尘套上的粉尘。

二、主机保养：避免环境干扰与物理损耗

环境控制：远离 “干扰源” 与 “恶劣环境”

防磁场 / 电场干扰：主机需远离强磁场源（如充磁机、电磁铁、大型电机）、强电场源（如高压设备、大功率变频器），避免环境磁场 / 电场对主机内部电路（如信号放大器、AD 转换器）造成干扰，导致测量数据漂移。

温湿度控制：主机适宜的工作 / 储存温度为0~40℃，湿度≤85%（无凝露）；严禁将主机置于高温（如阳光直射、靠近暖气）、潮湿（如水槽旁、地下室）或多腐蚀性气体（如化工车间）的环境中，否则易导致内部元器件生锈、电路板短路。

防尘防潮：长期不使用时，需将主机放入专用包装盒（或防尘防潮箱），并放入适量干燥剂（如硅胶干燥剂，定期更换），防止主机外壳积灰、内部受潮。

物理与接口保养

主机外壳若有灰尘，用干燥软布擦拭即可，严禁用尖锐物品（如螺丝刀、指甲）刮擦外壳或显示屏。

定期检查主机的接口（如探头接口、电源接口、数据传输接口（USB/RS232））：

接口内若有灰尘，用干燥的棉签轻轻清理（避免棉签纤维残留）；

插拔探头或数据线时，需对准接口方向，缓慢插拔，严禁强行用力，防止接口针脚弯曲或断裂；

不使用接口时，盖上专用防尘盖（若仪器配备），防止灰尘进入。

三、定期维护：校准与性能检查

定期校准：确保测量精度（关键！）

高斯计属于计量仪器，长期使用后（如每 6~12 个月，或测量频次高时每 3~6 个月），需送具备资质的计量机构（如国家认可的第三方实验室、厂家指定服务点）进行校准，根据校准报告调整仪器参数，确保测量值符合精度要求（如误差在 ±0.5% 以内，具体参考仪器说明书）。

若日常测量中发现数据异常（如同一位置多次测量值偏差大、与标准磁场源对比误差超范围），需立即停止使用，提前进行校准，不可凭经验 “修正” 数据。

电池与电源保养（针对便携式高斯计）

若为充电式高斯计，需使用原厂配套充电器充电，严禁使用非兼容充电器（易导致电池鼓包、电路损坏）；充电时避免过度充电（充满后及时断电，一般充电时间不超过 8 小时），长期不使用时（如超过 1 个月），需将电池电量充至 50%~70% 后存放，每 3 个月补充一次电，防止电池亏电报废。

若使用外接电源，需确认电源电压与仪器额定电压一致（如 AC 220V±10%），避免电压过高烧毁主机电源模块。

四、操作规范：减少人为损耗

测量前检查

每次使用前，先检查探头线缆是否完好、接口是否插紧，主机开机后是否有报错提示（如 “探头未连接”“电压异常”），若有报错需先排查问题，再进行测量。

测量前需确认探头类型与测量磁场类型匹配（如轴向探头测轴向磁场、径向探头测径向磁场），避免用错探头导致测量精度下降或探头损坏。

避免超量程使用

严格按照仪器的量程范围测量（如量程 0~2T，不可测量超过 2T 的磁场），超量程测量会损坏霍尔探头的感应芯片，导致探头永久失效，且无法修复。若不确定磁场强度，先从最大量程开始测试，再逐步调整至合适量程。

五、故障处理：小问题及时应对（避免扩大损坏）

若开机后主机无反应：先检查电源是否接通（充电器是否插好、电池是否有电），电源接口是否松动；若电源正常仍无反应，不可自行拆解主机，需联系厂家维修。

若测量数据漂移严重：先检查是否靠近干扰源、探头是否清洁，若排除环境因素，可能是探头老化或主机电路故障，需送修校准。

若探头无信号：检查探头线缆是否断裂、接口是否接触不良，若更换探头后恢复正常，则需更换原探头。

通过以上保养措施，可有效延长高斯计的使用寿命（一般可达 3~5 年），并确保其长期保持稳定的测量精度，避免因仪器故障导致测量数据错误，影响科研、生产或质检工作。